Axe 4 : Propriétés électroniques, électrostatique et transfert de charges
Responsables : Clemens BARTH (CINAM, Marseille) et Sylvie GODEY (IEMN, Lille)
Objectifs
- Mesure du travail de sortie dans des nano-objets (e.g. nanoparticules métalliques) et des systèmes moléculaires auto-assemblées
- Mesurer à l’échelle nanométrique des charges (détection possible de charges uniques) et des dipôles dans des systèmes complexes ou des atomes et des molécules isolées
- Étude des propriétés électroniques dans les matériaux photovoltaïques
- Transferts de charges dans et entre des nano-objets (atomes, molécules, nanoparticules métalliques) sur substrats isolants
Techniques expérimentales
- AFM non-contact (NC-AFM)
- Spectroscopie de force en fonction de la tension pointe-surface et de la distance pointe-surface
- Sonde de Kelvin (KPFM) couplée au NC-AFM
- Dynamique de charge/décharge résolue en temps
Laboratoires avec une activité forte sur cet axe
Dernières publications
Exemples de travaux
1. Modification du travail de sortie de nanoparticules de Pd en présence d’oxygène
2. Charge par émission de champ d’un nanocristal d’or sur SiO2
3. Spectroscopie de charge d’une liaison pendante Silicium
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